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可控高溫原位X射線測(cè)試臺(tái)是一種集成了高溫控制與X射線衍射分析功能的科研設(shè)備。適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標(biāo)化和點(diǎn)陣參數(shù)的測(cè)定、晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變的測(cè)定、薄膜物相的測(cè)定以及原位高溫結(jié)構(gòu)變化的動(dòng)態(tài)分析等。
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